Често коришћени инструменти за детекцију за анализу саставананоматеријалаукључују:
1. ИЦП (индуктивно спрегнута плазма): ИЦП је технологија која се широко користи у областима аналитичке хемије и науке о материјалима. Може се користити за одређивање садржаја и састава елемената у наноматеријалима. Претварањем узорка у гасовите јоне и коришћењем генерисаног спектра плазме за одређивање концентрације елемената. ИЦП-МС (Индуктивно спрегнути масени спектрометар плазме) комбинује технике ИЦП и масене спектрометрије за анализу изузетно ниске концентрације елемената у наноматеријалима.
2. КСРФ (рентгенска флуороскопија): КСРФ је широко коришћена технологија за анализу материјала и испитивање без разарања. Одређује састав елемената зрачењем површине или унутрашњости узорка рендгенским зрацима и мерењем флуоресцентног зрачења карактеристика елемената у узорку. КСРФ је погодан за низ наноматеријала, укључујући чврсте, течне и прашкасте узорке.
3. ЕДС (Енерги Дисперсиве Кс-раи Спецтросцопи): ЕДС је техника електронске микроскопије која одређује састав елемената у узорку мерењем рендгенских зрака насталих интеракцијом између снопа електрона и узорка у материјалу. ЕДС се често користи у комбинацији са скенирајућом електронском микроскопијом (СЕМ) да би се обезбедила анализа површинског састава наноматеријала.
