Наночестице се широко користе у различитим областима као што су испорука лекова, сликање и наука о материјалима. Премази на површини наночестица могу утицати на њихова својства и перформансе. Због тога је неопходно измерити дебљину премаза да би се разумели њихови ефекти на наночестице. У овом блог посту представићемо неколико метода за мерење дебљине премаза на наночестицама.
1. Трансмисиона електронска микроскопија (ТЕМ)
ТЕМ је моћна техника снимања која може да обезбеди слике високе резолуције наночестица. Такође се може користити за мерење дебљине премаза на наночестицама. ТЕМ функционише тако што пропушта сноп електрона кроз узорак, а интеракција између електрона и узорка може се користити за креирање слике. Користећи ТЕМ, контраст између премаза и наночестица може се користити за мерење дебљине премаза.
2. Микроскопија атомске силе (АФМ)
АФМ је још једна техника снимања која се може користити за мерење дебљине премаза на наночестицама. Ради тако што скенира површину узорка малом сондом. Сонда може да мери висину узорка са великом прецизношћу, која се може користити за израчунавање дебљине превлаке на наночестицама. АФМ може да обезбеди слике високе резолуције и погодан је за мерење дебљине премаза на једној наночестици.
3. Ултравиолет-Висибле (УВ-Вис) спектроскопија
УВ-Вис спектроскопија је техника која се може користити за мерење дебљине превлаке на великом броју наночестица истовремено. Функционише мерењем спектра апсорпције наночестица у раствору. Превлаке на наночестицама могу утицати на спектре апсорпције, а дебљина превлаке се може израчунати на основу степена померања спектра. УВ-Вис спектроскопија је брза и једноставна метода за мерење дебљине превлаке на наночестицама.
4. Микробаланс кристала кварца (КЦМ)
КЦМ је веома осетљива техника која се може користити за мерење масе наночестица. Мерењем промене масе наночестица са и без премаза може се израчунати дебљина превлаке. КЦМ може да обезбеди праћење дебљине премаза у реалном времену и погодан је за проучавање стабилности и кинетике премаза на наночестицама.
У закључку, постоји неколико метода за мерење дебљине превлаке на наночестицама, свака са својим предностима и ограничењима. Избор методе зависи од специфичних захтева апликације. Разумевањем дебљине премаза на наночестицама, можемо дизајнирати и оптимизовати њихова својства и функције за различите примене.
